+49 241 52 30 30 (DE) Alle Standorte

1nm Scanning Mobility Particle Sizer (SMPS) 3839E57

Artikelnr: 3938E57

Messungen bis zur Nachweisbarkeitsgrenze: Scannen Sie Partikel bis zu einer Größe von 1 nm. Messen Sie die Größe und Anzahlkonzentration von Partikeln mit einer Größe von nur 1 nm mit hoher Auflösung und Geschwindigkeit. Diese zweite Generation von 1-nm-Partikelgrößenmessgeräten baut auf der über 30-jährigen Erfahrung von TSI mit Scanning Mobility Particle Sizer (SMPS™) Spektrometern auf. Mit einem SMPS-System, das den Nano Enhancer 3757 und den Differentiellen Mobilitätsanalysator (DMA) 3086 umfasst, können Sie die Reaktionskinetik und die Bildung neuer Partikel von künstlichen und natürlichen Aerosolpartikeln bei diesen kleinsten, kritischen Größen überwachen.

Produktdetails

Das 1nm Scanning Mobility Particle Sizer (SMPS™) 3839E57 Spektrometer verbindet TSIs historische Stärken bei der Klassierung und Zählung von Partikeln mit einer neuen Technologie, mit der auch Partikel mit einer Größe von nur 1 nm gemessen werden können. Differentieller Mobilitätsanalysator (DMA) 3086 ist auf eine weitere Verringerung der Diffusionsverluste bei diesen äußerst kleinen Partikeln optimiert. Zwischen dem DMA und einem marktüblichen Partikelzähler angeordnet lässt der Nano Enhancer 3757 die 1 nm große Partikel mit Diethylenglykol anwachsen und ermöglicht so die Detektion durch den Partikelzähler. Das neue Design des Nano Enhancers sorgt für eine noch bessere Integration von Partikelzähler und Nano Enhancer und erleichtert das Einrichten und die Bedienung erheblich.

Gemeinsam ermöglichen diese Komponenten Forschern den Aufbruch in eine ganz neue Dimension. Die wichtigsten Anwendungen sind:

  • Atmosphärenforschung - Das Monitoring der Partikelbildung und -kinetik oder Wolkenbildung ohne die übliche Lücke zwischen Massenspektrometer und klassischer Messung der Partikelgrößenverteilung. Ideal geeignet für die Untersuchung von Partikelquellen, Gesundheitsfolgen sowie Partikelgrößen kleiner 3 nm in stark belasteten Städten.
  • Werkstoffkunde - Überwachung und Charakterisierung von Partikelgrößen unter 3 nm mit zuverlässigen Ergebnissen nahezu in Echtzeit. Das System ist ideal geeignet für die Synthese technischer Aerosolpartikel, die Funktionalisierung von Nanopartikeln, die analytische Chemie im Nanobereich, die Steuerung der Reaktionskinetik sowie die Katalysatorsynthese.

Das 1 nm-SMPS ist hierbei nicht einfach nur ein weiterer Detektor zur Erkennung spontaner Nukleation/Keimbildung ab 1 nm. Es ist ein vollständiges Partikelspektrometer, das die Größenverteilungen während dieser Ereignisse mit einzigartiger Auflösung anzeigt.

Die Modularität des Komponentenaufbaus ermöglicht eine optimale Anpassung des Systems an die jeweiligen Messanforderungen und reduziert dadurch den Zeit- und Kostenaufwand. Wenn Sie bereits über ein SMPS-System aus der 3938er Serie und ein Partikelzähler 3772 verfügen, sind lediglich der 1 nm-DMA und der Nano Enhancer einzubinden. Klassierer und Advanced Neutralizer/Röntgen neutralisator können weiterverwendet werden. Dazu erhalten Sie ein kostenloses Update der AIM-Software.

Anwendungen

  • Grundlagenforschung zu Aerosolen
  • Untersuchungen zur Keimbildung/Nukleation und zum Wachstum von Partikeln aus Partikelquellen wie der Flammensynthese, Laserabtragung, Funkenbildung sowie der Nukleation und Kondensation
  • Forschungen zum Verbrennungsvorgang und Abgasausstoß von Motoren (organische Treibstoffe, Partikelemissionen unter 3 nm, erdgasgetriebene Motoren, Kunststoffguss und -lötung)
  • Filtrationsforschung
  • Inhalations- oder Expositionskammerstudien
  • Untersuchung von Gesundheitsfolgen

Leistungsmerkmale & Vorteile

  • Schnelle, hochauflösende Angaben zu Größen und Partikelkonzentrationen
    • Optimiert für minimale Diffusionsverluste
    • 217 Kanäle zwischen 1 und 50 nm
    • Möglichkeit der Messung über drei Größendekaden von 1 nm bis 1 µm (in Verbindung mit dem Long DMA 3081A)
  • Modularer Aufbau zur exakten Anpassung an alle Messanforderungen z. B. durch den autonomen Einsatz des 1 nm-Partikelzählers
  • Zuverlässige und belastbare Messdaten durch eingebaute Diagnose und automatische Erkennung von Systemkomponenten
  • Einfaches Setup und Verwendung mit der Aerosol Instrument Manager-Software (AIM)
  • Diskrete Partikelmessung: gute Ergebnisse bei multimodalen Messergebnissen

*Die angegebenen Leistungs- und Nutzmerkmale gehen von dem folgenden SMPS-Spektrometeraufbau aus: Elektrostatischer Klassierer 3082, 1 nm-DMA, 1 nm-Nano Enhancer 3757 und Kondensationspartikelzähler 3750.