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通用型扫描电迁移率粒径谱仪(SMPS)3938

商品编号: 3938L89

选择您气溶胶测量对的全球标准配置。  TSI扫描电迁移率粒径谱仪(SMPS™)扫描电迁移率粒径谱仪帮助研究者取得了气溶胶研究的新突破,并协助校准参考材料和其它气溶胶仪器。美国国家标准技术研究所(NIST)和世界各地的许多其它参考实验室使用TSI SMPS™进行亚微米粒径分布测量。TSI SMPS™扫描电迁移率粒径谱仪是研究人员用于纳米粒子粒径分布测量的最佳选择。

通用版第三代3938型扫描电迁移率粒径谱仪SMPS采用模块化、基于组件的设计,不但具有非常高的粒径分辨率,还具有快速扫描(每次扫描小于15秒)和自动组件识别功能。TSI SMPS易于使用,并可以为研究人员提供最高质量数据。

Product Details

扫描迁移率粒径谱仪(SMPS™)是一款纳米级粒径谱仪,能够精确地测量空气中亚微米颗粒的粒径分布。它将电迁移率测量和单粒子计数相结合,在离散粒径通道提供纳米粒子浓度。SMPS™的高分辨率高达128个通道/10 倍粒径,总共可达384个通道。

SMPS™3938是基于组件的,允许用户定制他们所需要的的SMPS以匹配具体的实验需求。用户可以选择四种差分静电迁移分析仪(DMAs)六种凝聚核粒子计数器(CPCs)和两种不同的气溶胶中和器,使测量范围从1 nm到1µm。当SMPS与光学颗粒物粒径谱仪(OPS)空气动力学粒径谱仪(APS)耦合时,连续测量范围可分别扩展到10µm或20µm。

应用

  • 纳米技术研究和材料合成
  • 大气研究和环境检测
  • 燃烧和发动机排放研究
  • 室内空气质量测量
  • 成核/凝结研究
  • 吸入毒理学研究    

特点和优势

  • 高分辨率数据:高达384个通道
  • 宽粒径范围:从1 nm到1,000 nm
  • 符合ISO 15900:2009 标准
  • 快速测量: <15秒扫描
  • 浓度范围广,可达107个粒/cm3
  • 模块化组件设计,最大限度地提高灵活性
  • 触摸屏控制,独立操作(不需要电脑)
  • 轻松设置,无需工具安装和自动检测组件
  • 离散粒子测量:适用于多模式样品
  • 粒径测量与粒子和流体的光学特性无关
  • 广泛的系统选择:可选择水或丁醇CPC;选择传统或非放射性中和器

包含组件

  • 与您自选DMA差分静电迁移率分析仪配套的静电分级器
  • 七款凝聚粒子计数器之一
  • Aerosol Instrument Manager®气溶胶仪器管理软件  

用于数据采集的电脑须单独购买。

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:根据您的需求,TSI提供两个级别的服务选项: 清洁和校准维修,清洁和校准。由于每个仪器型号都是独一无二的,请参阅下面的型号专用服务选项卡,了解每种套餐的详细内容:

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