静电分级器和差分静电迁移分析仪DMAs

静电分级器和差分电迁移分析仪利用电迁移率来精确测定粒子大小，因此非常适合测量小于1μm的粒子。根据 ISO 15900 标准，这种技术在全球范围内被公认为是测量亚微米颗粒物的首选方法。

凭借超过 40 年的专业经验，TSI 的静电分级器和差分电迁移分析仪以其高性能的气溶胶检测而闻名，这体现了我们在粒径尺寸测量方面追求精准的承诺。

产品

差分静电迁移率分析仪升级套件

查看类别

静电分级器 3082

我们最新的静电分类器3082继续是帮助科学家产生和尺寸亚微米粒子的解决方案，但具有扩展的功能和易于使用的界面。

查看产品

差分电迁移率分析仪 3081A

差分静电迁移率分析仪(DMA)是用于执行粒径分布测量的SMPS™等粒径谱仪的关键部件。3081A型设计用于在一次扫描中覆盖从10nm到1000nm的粒径范围...

查看产品

差分电迁移率分析仪 3085A

差分静电迁移率分析仪(DMA)是用于执行粒径分布测量的SMPS™等粒径谱仪的关键部件。3085A型设计用于在一次扫描中覆盖从2nm到150nm的粒径范围...

查看产品

差分静电迁移率分析仪 3086

差分静电迁移率分析仪(DMA)是用于执行粒径分布测量的1nm SMPS等粒径谱仪的关键部件。3086型设计用于在一次扫描中覆盖从1nm到50nm的粒径范围...

查看产品

差分静电迁移率分析仪 3083

差分静电迁移率分析仪(DMA)是用于执行粒径分布测量的SMPS™等粒径谱仪的关键部件。3083型设计用于在一次扫描中覆盖从10nm到800nm的粒径范围...

查看产品