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了解颗粒脱落的来源及其对良率的影响对于制定有效的缓解策略至关重要

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了解一家全球半导体工具制造商如何克服TEMAZr和CpZr在ZrO₂沉积中的汽化难题。

以纳米级测量专业技术迎接明天的挑战——确保精度、质量控制和可靠性的必备工具

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我们提供量身定制的尖端解决方案,以应对半导体制造市场的独特(纳米级)检测难题 。凭借我们的先进仪器和专业知识,我们为过程控制、质量保证和洁净室监测提供关键工具。 保持竞争优势——相信 TSI 和 MSP 将成为您的首选合作伙伴,帮助您克服半导体生产过程中纳米级的挑战。

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