Supermicron-Capable Particle Sizer Spectrometers

TSI offers four supermicron-capable particle sizer spectrometers designed for measuring particle sizes above a micrometer. Our instruments utilize optical and aerodynamic techniques, providing real-time mass measurements and customizable size binning options. Whether your needs require measurements just below or above a micrometer, TSI has the right sizing solution for your application.

Products

空气动力学粒径谱仪(APS)3321

目前市场上特有的可以测量0.5-20微米粒子的空气动力学粒径谱仪。虽然级联撞击式分级采样器也可以通过空气动力学直径来测量粒径大小，但空气动力学粒径谱仪(APS™)提供了高粒径分辨率... View Product

激光气溶胶光谱仪(LAS)3340A

TSI 3340A型激光气溶胶光谱仪是一种光学光谱仪，可测量0.09 µm（90nm）-7.5 µm的粒子粒径分布，具有超高灵敏度、极高分辨率和易用性... View Product

光学颗粒物粒径谱仪(OPS)3330

轻便，便携，精确测量0.3至10微米的粒径。光学颗粒物粒径谱仪(OPS)能够测量粒子浓度和粒径分布，频率可达每秒一次(1hz)，是一种有价值的工具，应用范围从过滤器测试到工业测量... View Product

石英晶体微量天平 QCM MOUDI 撞击式分级采样器 140

QCM MOUDI™撞击式采样器是一款基于QCM（石英晶体微量天平）传感器可实时检测质量的精密科研级撞击式分级采样器。撞击式分级采样器有一个2.5 -µ... View Product