超微米粒子分级光谱仪

当您的应用程序需要测量微米以上的粒径大小时，TSI有四种选择供您参考。我们的“超微米能力”系列仪器包括光学和空气动力学技术，用于测量这个尺寸范围内的粒径。无论您需要实时质量测量，用户可自定义大小装箱，还是跨度在微米以下和微米以上的尺寸范围，TSI都为您提供了粒径解决方案。

产品

空气动力学粒径谱仪(APS)3321

目前市场上特有的可以测量0.5-20微米粒子的空气动力学粒径谱仪。虽然级联撞击式分级采样器也可以通过空气动力学直径来测量粒径大小，但空气动力学粒径谱仪(APS™)提供了高粒径分辨率...

光学颗粒物粒径谱仪(OPS)3330

轻便，便携，精确测量0.3至10微米的粒径。光学颗粒物粒径谱仪(OPS)能够测量粒子浓度和粒径分布，频率可达每秒一次(1hz)，是一种有价值的工具，应用范围从过滤器测试到工业测量...

激光气溶胶光谱仪(LAS)3340A

TSI 3340A型激光气溶胶光谱仪是一种光学光谱仪，可测量0.09 µm（90nm）-7.5 µm的粒子粒径分布，具有超高灵敏度、极高分辨率和易用性...

石英晶体微量天平 QCM MOUDI 撞击式分级采样器 140

QCM MOUDI™撞击式采样器是一款基于QCM（石英晶体微量天平）传感器可实时检测质量的精密科研级撞击式分级采样器。撞击式分级采样器有一个2.5 -µ...