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流速 0.1 CFM (2.83 LPM) / 通道粒径 0.2 - 25 μm / 内置泵

在汽车和工业电子中，确保敏感组件的最佳性能和寿命至关重要。在光子学和光学、数据中心以及汽车应用（例如 MEMS、油漆、电动汽车组件）等领域，有效的污染控制实践有助于维护质量标准、降低维护成本，并增强产品的整体可靠性和安全性。TSI 每天都在致力于帮助领先的工业制造商识别其环境中的污染源，这些环境中精度和可靠性对于实现高质量最终产品极为重要。

MSP, a Division of TSI, supplies wafer contamination standards and reticle contamination standards in the semiconductor industry for consistent and repeatable particle size and count control.

符合 ISO 14644 标准对于控制空气中颗粒物污染水平至关重要。

流速1 CFM (28.3 LPM) 精确度± 5% / 粒径范围0.3 to 25 μm / 内置泵

访问FMS， 无处不在！OPC UA客户机/服务器能够监控粒子数量和其它环境参数，这对于减少浪费、提高产量、提高质量和增加利润具有重要的商业意义