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静电分级器和差分静电迁移分析仪
静电分级器和差分静电迁移分析仪(DMAs)是测量亚微米颗粒物粒径的首选工具
静电分级器和差分静电迁移分析仪是测量亚微米粒子粒径的首选工具。这两种仪器配合使用通过静电迁移技术来测量粒子粒径。该技术是测量小于1微米的粒子粒径的最合适方法。实际上,ISO 15900指出,在全球范围内,静电迁移技术是亚微米粒子测量的首选方法。
TSI的静电分级机和差分静电迁移分析仪有着悠久的历史,40多年来一直使用电迁移技术来测量粒子粒径。TSI有着数十年制造高性能气溶胶仪器的经验,静电分级机和微分静电迁移分析仪是我们的核心产品。要找到适合您应用的气溶胶粒径谱仪,请进一步浏览本网站,或通过particle@tsi.com与TSI专家沟通
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