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Wafer contamination standards consist of particles deposited on a wafer (sizes from 100 mm to 450 mm) with the industry's best particle size and count control. These certified standards for wafer inspection tools are totally customized for each customer.

Particulate Matter (PM) and VOC-PID (ppm) Module for TSI OmniTrak™ Solution.This product is only available in the US, Canada, United Kingdom, European Union, Switzerland, Norway and Australia. 

MOUDI-II™ 和 NanoMOUDI-II 撞击式分级采样器是MSP的 第二代 微孔均一沉积式多级撞击采样器。 这些撞击式分级采样器因气优越的空气动力学设计、精确的切割粒径和低颗粒物流失特性而著称。多达6000个精密微孔喷嘴被用于减少压降、射流速度、粒子弹跳和二次夹带。 请注意:122R 型MOUDI-II™ 撞击式分级采样器将于2024年12月31日停止生产和销售，但之后仍正常提供技术支持和服务。同时，120R 和125R型仍然可以满足您的需求。

气溶胶中和是气溶胶科学和工程的重要组成部分。中和气溶胶颗粒可以减少管道内或其他表面颗粒的静电损失。在使用基于电动流动性的尺寸仪时, 中和对于收集可靠的粒度数据也是至关重要的。.

Alnor®微压计AXD620是一款坚固、紧凑、全面的微压计，用于测量压力。它可以与皮托管一起测量流速，然后根据用户输入管道的尺寸和形状计算流速。

EBT731 Balometer®捕获罩是一种多用途电子空气平衡仪器，主要用于有效地读取扩散器和格栅处的直接空气量读数。EBT具有一个可拆卸的微压计，可与可选探针一起使用，以提高在多种测量应用中的灵活性。

Alnor®Velometer®热风速计AVM410是数字风速计的可靠选择，不会影响精度或精度。测量温度和速度。

Alnor®Velometer®热风速计AVM430-A就像一个价格有多个仪表一样，但操作仍然非常简单。AVM430-A是铰接探头版本。