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根据粒子测量计划(PMP)，计算发动机排放的粒子数在发动机排放研究中很有价值，是发动机类型认证的关键组成部分。TSI发动机排气凝结颗粒计数器(EECPC)型号3790A是专为这些需求而设计的，满足UNECE R83的要求，对于任何需要测量发动机排气中的颗粒的客户来说都是一个非常有价值的工具。

Wafer contamination standards consist of particles deposited on a wafer (sizes from 100 mm to 450 mm) with the industry's best particle size and count control. These certified standards for wafer inspection tools are totally customized for each customer.

Particle Standards are used to produce high-quality calibration standards for calibrating, qualifying, and monitoring the performance of wafer and photomask inspection systems.

TSI 3910型NanoScan SMPS 实现了纳米粒子粒径的常规测量。这一革命性的粒径谱仪将TSI SMPSTM粒径谱仪集成于约篮球大小的便携机箱内，具有易于使用，重量轻和通过电池供电等优点，让研究人员能够在多点采集纳米粒子粒径分布数据。Nanoscan SMPS适用于多种应用，如多种移动研究、工作场所暴露监测、点源识别和学生实验室教育。NanoScan SMPS 由TSI 核心技术中衍生而来，是一个创新、经济型的实时纳米粒子粒径测量解决方案。

气溶胶中和是气溶胶科学和工程的重要组成部分。中和气溶胶颗粒可以减少管道内或其他表面颗粒的静电损失。在使用基于电动流动性的尺寸仪时, 中和对于收集可靠的粒度数据也是至关重要的

科罗拉多州立大学实验室采用TSI仪器对N95口罩及个人防护装备进行了过滤效率、透气性和适合性检验，确保防护装备符合健康安全标准。