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差分静电迁移率分析仪 3086

商品编号: 3086

差分静电迁移率分析仪(DMA)是用于执行粒径分布测量的1nm SMPS等粒径谱仪的关键部件。3086型设计用于在一次扫描中覆盖从1nm到50nm的 粒径范围。这种新的DMA可以控制使用静电级器3082,就像可以控制任何其他型号DMA一样(参阅型号3083, 3081A,和3085A)。

TSI DMAs配备了标识标签,以便分级器自动识别安装组件。该硬件自动识别确保数据可靠。

Product Details

每款型号的DMA都是为特定目的而设计的。3086型专门用于在一次扫描中覆盖从1nm到50nm的粒径范围。优化的流道减少了扩散损失,提高了粒径尺寸分辨率。

请务必下载静电分级器3082的最新固件更新和最新的气溶胶仪器管理软件。

应用 

  • 颗粒物粒径测量,特别是成核粒子和新粒子形成
  • 单分散气溶胶的生成

特点和优势

  • 在一次扫描中扩展粒径范围从1nm到50nm
  • 与静电分级器3082兼容,允许用户更换DMA,以适应各种粒径范围

服务

服务、校准和维修选项          

根据您的需求,TSI提供两个级别的服务选项: 清洁和校准;维修,清洁和校准。由于每个仪器型号都是独一无二的,请参阅下面的型号专用服务选项卡,了解每种套餐的详细内容:

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