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Débit d´écoulement 28,3 L/min (1,0 CFM) / Plage de mesures 0,100 à 10,0 µm

*Cet appareil n'est pas disponible dans l'Union européenne. Veuillez contacter notre service commercial pour de plus amples informations.* *Merci de noter que cette page est disponible en anglais uniquement.*Confidently and accurately measure supply or return flows from 10 to...

Ce produit a été abandonné au 31 décembre 1995.

*Merci de noter que cette page est disponible en anglais uniquement.*The MSP Wafer Recertification Program provides a cost-effective and efficient solution for helping ensure the precision of your calibration standards, verifying your wafer inspection and metrology tools...

*Merci de noter que cette page est disponible en anglais uniquement.*Reticle/photomask contamination standards consist of particles deposited on 6 inch reticles with the industry's best particle size and count control. These certified standards for reticle inspection tools are...