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Wafer contamination standards consist of particles deposited on a wafer (sizes from 100 mm to 450 mm) with the industry's best particle size and count control. These certified standards for wafer inspection tools are totally customized for each customer.

Particulate Matter (PM) and VOC-PID (ppm) Module for TSI OmniTrak™ Solution.This product is only available in the US, Canada, United Kingdom, European Union, Switzerland, Norway and Australia. 

Les impacteurs MOUDI-II™ et Nano MOUDI-II représentent la 2nde génération d'impacteurs à micro-orifice à dépôt uniforme de MSP. Ces impacteurs sont reconnus pour leur design aérodynamique supérieur, la précision de leur diamètre de coupure et leurs faibles pertes particulaires...

La neutralisation des aérosols est une composante importante de la science et de l'ingénierie des aérosols. La neutralisation des particules d'aérosol peut réduire les pertes électrostatiques des particules à l'intérieur des tubes ou vers d'autres surfaces. La neutralisation...

*Cet appareil n'est pas disponible dans l'Union européenne. Veuillez contacter notre service commercial pour de plus amples informations.* *Merci de noter que cette page est disponible en anglais uniquement.*The Alnor Micromanometer AXD620 is a rugged, compact, comprehensive...

*Cet appareil n'est pas disponible dans l'Union européenne. Veuillez contacter notre service commercial pour de plus amples informations.**Merci de noter que cette page est disponible en anglais uniquement.*The EBT731 Balometer Capture Hood is a multipurpose electronic air...

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*Cet appareil n'est pas disponible dans l'Union européenne. Veuillez contacter notre service commercial pour de plus amples informations.**Merci de noter que cette page est disponible en anglais uniquement.*Measures velocity, temperature / calculates flow with an articulated...