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TSI®的扫描电迁移率粒径谱仪(SMPS™)作为气相测量中纳米粒子计数和粒径分布的黄金标准，粒径范围从几纳米到1微米。测量技术是建立在ISO 15900:2009标准基础之上，确保纳米粒子分析具有无可比拟的精度和可靠性。

SMPS™最为突出的特点之一是它能够提供独立于气溶胶折射率的粒径测量结果。这意味着即使是在处理不同类型的气溶胶，你仍然可以信任它生成的数据。期待更高的粒径测量精度和更稳定的测量可重复性，为纳米粒子分析设定新的标准。

工作原理: SMPS™粒径谱仪的幕后

SMPS™粒径谱仪是一项现代工程技术的奇迹，其由三个基本组件组成：

1. 静电分级器: 该组件采用双极中和器对气溶胶施加标准平衡电荷分布。这一步对于为后续分析准备气溶胶至关重要。

2. 差分静电迁移分析仪(DMA): SMPS™的核心，DMA，擅长根据粒子的电迁移率对其进行分类。该技术可确保您获得精确和可选择粒径的纳米粒子。

3. 凝聚核粒子计数器(CPC): CPC是分选粒子计数的核心部分。它量化了由DMA分级出的每个粒径范围的粒子，提供了一个全面的粒子数浓度。

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为何选择TSI® SMPS™ 粒径谱仪

来自TSI®的SMPS™粒径谱仪使科学家，研究人员和工程师能够在不同领域脱颖而出，使其成为纳米粒子分析和研究专家们的首选仪器。

• 尖端的纳米粒子分析技术
• 无可比拟的粒径精度和可重复性
• 无需校准，节省您的时间和资源
• 全面的三组件粒径谱仪进行精确分析

参见SMPS™ 配置