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MSP's SPx Calibration Standards are precision engineered tools for the calibration, verification and re-qualification of the most common wafer surface inspection systems used in semiconductor manufacturing. These standards play a crucial role in ensuring the accuracy and...

差分静电迁移率分析仪(DMA)是用于执行粒径分布测量的SMPS™等粒径谱仪的关键部件。3085A型设计用于在一次扫描中覆盖从2nm到150nm的 粒径范围。这种新的DMA可以控制使用静电级器3082，就像可以控制任何其他型号DMA一样(参阅型号3083, 3081A，和3086)。TSI DMAs配备了标识标签，以便分级器自动识别安装组件。该硬件自动识别确保数据可靠。

本应用说明探讨了MOUDI™撞击式分级采样器如何助力气溶胶研究，对环境粒子进行化学分析，研究其来源、组成及健康影响。

校准对于研究中的精确仪器至关重要。TSI的海报详细介绍了校准流程、关键步骤以及优化操作方法，以提升测量完整性和数据质量。

探索使用TSI的mini-MOUDI™撞击式粒径切割器测量香烟和电子烟粒子污染物排放的方法，重点介绍关键研究成果。

法规监管研发旨在制定标准和开展创新活动，以确保各行业遵守环境、健康和安全方面的法规。像美国环境保护署（EPA）和欧盟（EU）这样的机构发挥着关键作用，它们通过制定减少污染、保障公众健康和促进可持续发展的规则来发挥作用。这些机构与研究机构合作，资助并指导研发工作，帮助各行业开发更清洁的技术、提高产品安全性，并遵循最佳实践。

128，129，130 和131型是高流量撞击式分级采样器(HFI) ，与传统的介质流量撞击式分级采样器相比具有理想的低浓度取样、短采样间隔，或可为每个等级采集更多的质量。请注意：MOUDI™高流量撞击式分级采样器 128、129、130A、130B和131A型将于2024年12月31日停止生产和销售，但之后仍正常提供技术支持和服务。同时，131B型号仍然可以满足您的需求。

The TSI OmniTrak™ Smart Station can be used in conjunction with any TSI OmniTrak™ module to provide immediate feedback as to the conditions in the immediate area.This product is only available in the US, Canada, United Kingdom, European Union, Switzerland, Norway and Australia...