Search

135型迷你MOUDI™  撞击式分级采样器是一款采样流量为2.0 L/min，物理尺寸较小的高精度撞击式分级采样器。 它们可以提供6、8和10个切割等级，提供小至56nm(与传统的MOUDI 撞击式分级采样器相同)的粒径分级的颗粒样品。请注意：135-6A, 135-8A 和 135-10A型迷你MOUDI™ 撞击式分级采样器将于2024年12月31日停止生产和销售，但之后仍正常提供技术支持和服务。同时135-6B, 135-8B 和 135-10B型仍然可以满足您的需求。

监控通风柜的性能并在面速度过低的时候报警。

VOC-PID (ppm) Module for TSI OmniTrak™ Solution.This product is only available in the US, Canada, United Kingdom, European Union, Switzerland, Norway and Australia. 

冷凝聚核计数器(CPC) 3750-10旨在确保大气中 超细颗粒物 (UFPs）的监测 ，满足最高的准确性和可靠性。

作为协调大气中超细粒子(UFPs)测量的第一步，欧洲标准化委员会(CEN)制定了技术规范CEN/TS 16976。本标准规定了凝聚核粒子计数器（CPC）和采样系统的一系列要求。CPC型号3750-CEN10完全符合CEN/TS16976技术规范。

根据粒子测量计划(PMP)，计算发动机排放的粒子数在发动机排放研究中很有价值，是发动机类型认证的关键组成部分。TSI发动机排气凝结颗粒计数器(EECPC)型号3790A是专为这些需求而设计的，满足UNECE R83的要求，对于任何需要测量发动机排气中的颗粒的客户来说都是一个非常有价值的工具。

Wafer contamination standards consist of particles deposited on a wafer (sizes from 100 mm to 450 mm) with the industry's best particle size and count control. These certified standards for wafer inspection tools are totally customized for each customer.

Particle Standards are used to produce high-quality calibration standards for calibrating, qualifying, and monitoring the performance of wafer and photomask inspection systems.

TSI 3910型NanoScan SMPS 实现了纳米粒子粒径的常规测量。这一革命性的粒径谱仪将TSI SMPSTM粒径谱仪集成于约篮球大小的便携机箱内，具有易于使用，重量轻和通过电池供电等优点，让研究人员能够在多点采集纳米粒子粒径分布数据。Nanoscan SMPS适用于多种应用，如多种移动研究、工作场所暴露监测、点源识别和学生实验室教育。NanoScan SMPS 由TSI 核心技术中衍生而来，是一个创新、经济型的实时纳米粒子粒径测量解决方案。