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静电分级器和差分静电迁移分析仪
静电分级器和差分静电迁移分析仪是测量亚微米粒子粒径的首选工具。这两种仪器配合使用通过静电迁移技术来测量粒子粒径。该技术是测量小于1微米的粒子粒径的最合适方法。实际上，ISO 15900指出，在全球范围内，静电迁移技术是亚微米粒子测量的首选方法。
TSI的静电分级机和差分静电迁移分析仪有着悠久的历史，40多年来一直使用电迁移技术来测量粒子粒径。TSI有着数十年制造高性能气溶胶仪器的经验，静电分级机和微分静电迁移分析仪是我们的核心产品。要找到适合您应用的气溶胶粒径谱仪，请进一步浏览本网站，或通过particle@tsi.com与TSI专家沟通
静电分级器 3082
我们最新的静电分类器3082继续是帮助科学家产生和尺寸亚微米粒子的解决方案，但具有扩展的功能和易于使用的界面。
差分电迁移率分析仪 3081A
差分静电迁移率分析仪(DMA)是用于执行粒径分布测量的SMPS™等粒径谱仪的关键部件。3081A型设计用于在一次扫描中覆盖从10nm到1000nm的 粒径范围。这种新的DMA可以控制使用静电级器3082，就像可以控制任何其他型号DMA一样(参阅型号3083, 3085A，和3086)。
TSI DMAs配备了标识标签，以便分级器自动识别安装组件。该硬件自动识别确保数据可靠。
差分电迁移率分析仪 3085A
差分静电迁移率分析仪(DMA)是用于执行粒径分布测量的SMPS™等粒径谱仪的关键部件。3085A型设计用于在一次扫描中覆盖从2nm到150nm的 粒径范围。这种新的DMA可以控制使用静电级器3082，就像可以控制任何其他型号DMA一样(参阅型号3083, 3081A，和3086)。
TSI DMAs配备了标识标签，以便分级器自动识别安装组件。该硬件自动识别确保数据可靠。
差分静电迁移率分析仪 3086
差分静电迁移率分析仪(DMA)是用于执行粒径分布测量的1nm SMPS等粒径谱仪的关键部件。3086型设计用于在一次扫描中覆盖从1nm到50nm的 粒径范围。这种新的DMA可以控制使用静电级器3082，就像可以控制任何其他型号DMA一样(参阅型号3083, 3081A，和3085A)。
TSI DMAs配备了标识标签，以便分级器自动识别安装组件。该硬件自动识别确保数据可靠。
差分静电迁移率分析仪 3083
差分静电迁移率分析仪(DMA)是用于执行粒径分布测量的SMPS™等粒径谱仪的关键部件。3083型设计用于在一次扫描中覆盖从10nm到800nm的 粒径范围。这种新的DMA可以控制使用静电级器3082，就像可以控制任何其他型号DMA一样(参阅型号3081A, 3085A，和3086)。
TSI DMAs配备了标识标签，以便分级器自动识别安装组件。该硬件自动识别确保数据可靠。