扫描电迁移率粒径谱仪

选择您气溶胶测量对的全球标准配置。  TSI扫描电迁移率粒径谱仪(SMPS™)扫描电迁移率粒径谱仪帮助研究者取得了气溶胶研究的新突破，并协助校准参考材料和其它气溶胶仪器。美国国家标准技术研究所（NIST）和世界各地的许多其它参考实验室使用TSI SMPS™进行亚微米粒径分布测量。TSI SMPS™扫描电迁移率粒径谱仪是研究人员用于纳米粒子粒径分布测量的最佳选择。 通用版第三代3938型扫描电迁移率粒径谱仪SMPS采用模块化、基于组件的设计，不但具有非常高的粒径分辨率，还具有快速扫描（每次扫描小于15秒）和自动组件识别功能。TSI SMPS易于使用，并可以为研究人员提供最高质量数据。

TSI 3910型NanoScan SMPS 实现了纳米粒子粒径的常规测量。这一革命性的粒径谱仪将TSI SMPSTM粒径谱仪集成于约篮球大小的便携机箱内，具有易于使用，重量轻和通过电池供电等优点，让研究人员能够在多点采集纳米粒子粒径分布数据。Nanoscan SMPS适用于多种应用，如多种移动研究、工作场所暴露监测、点源识别和学生实验室教育。NanoScan SMPS 由TSI 核心技术中衍生而来，是一个创新、经济型的实时纳米粒子粒径测量解决方案。

使用第二代1-nm粒径谱仪将您的测量能力升级至检测极限。30多年来，TSI的SMPS™粒径谱仪被广泛作为测量亚微米和低纳米范围内气溶胶粒径分布的标准。SMPS系统包括3757型纳米增强CPC以及3086型差分静电迁移分析仪(DMA)的配合使用，可以以高分辨率和高速度测量粒径和数量浓度，并监测小于1nm的工程和天然气溶胶粒子的反应动力学和新粒子生成。

采用符合CEN颗粒分级系统连续监测大气中的超细颗粒物。该宽范围环境空气监测的扫描电迁移率粒径谱仪(SMPS™)符合  欧洲标准化委员会 (CEN)技术规范CEN/TS 17434:2020的所有要求。此技术标准的重点是大气中粒径分布的统一测量。 宽范围扫描电迁移率粒径谱仪SMPS™3938W50-CEN提供的数据可以轻松集成到现有监测网络中。与采样系统和可选的独立凝聚核粒子计数器（CPC）配合使用，监测站可以获得监测超细粒子的完整解决方案。

此系统具有水基凝聚核粒子计数器(CPC)功能，可连续监测大气中的超细粒子(UFPs)。这种基于组件的宽范围扫描电迁移率粒径谱仪(SMPS™)测量UFP大小分布在宽范围(10 - 800 nm每一次扫描)，并在其粒子监测技术中使用易于获得的蒸馏水。这种粒径测量系统提供的数据可以很容易地集成到现有的监测网络中。除了采样系统和可选的独立CPC外，空气质量监测站还可以使用完整的解决方案来监测UFPs。