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通过TSI高水准的零部件清洁度测试解决方案，在半导体制造过程中解锁精度和可靠性，粒子检测精度可低至2nm。

The new PortaCount® Fit Tester combines real-time and real-world measurements to advance respirator safety beyond what any other fit test can deliver.

校准和维修您的TSI流量仪器

关于气溶胶和纳米颗粒的网络研讨会

关于发动机排放的视频和网络研讨会

OEM传感器，可针对O2进行校准，21°C时，读数误差约为± 2.5% ± 0.1 l/min.

OEM传感器，可校准空气，精度±2%的读数±0.05L/min@21°C。

使用第二代1-nm粒径谱仪将您的测量能力升级至检测极限。30多年来，TSI的SMPS™粒径谱仪被广泛作为测量亚微米和低纳米范围内气溶胶粒径分布的标准。SMPS系统包括3757型纳米增强CPC以及3086型差分静电迁移分析仪(DMA)的配合使用，可以以高分辨率和高速度测量粒径和数量浓度，并监测小于1nm的工程和天然气溶胶粒子的反应动力学和新粒子生成。

OEM传感器，可针对O2进行校准，21°C时，读数误差约为± 2.5% ± 0.1 l/min.