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FMS 5可安全可靠地将关键设施监控系统数据转移到集中的企业报告系统。

通过TSI的高纯度工艺气体检测，体验半导体制造的超级精度，能够精确定位粒子粒径低至2nm。

CEN/TS 16976和17434适用于大气中超细颗粒(UFP)的测量。

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MOUDI-II™ 和 NanoMOUDI-II 撞击式分级采样器是MSP的 第二代 微孔均一沉积式多级撞击采样器。 这些撞击式分级采样器因气优越的空气动力学设计、精确的切割粒径和低颗粒物流失特性而著称。多达6000个精密微孔喷嘴被用于减少压降、射流速度、粒子弹跳和二次夹带。 请注意:122R 型MOUDI-II™ 撞击式分级采样器将于2024年12月31日停止生产和销售，但之后仍正常提供技术支持和服务。同时，120R 和125R型仍然可以满足您的需求。