Search

测试不足可能导致产品质量低下和收入下降。使用TSI粒子计数器可以实现实时污染物检测，支持工艺优化并提高制造效率。

MSP, a Division of TSI, supplies wafer contamination standards and reticle contamination standards in the semiconductor industry for consistent and repeatable particle size and count control.

在汽车和工业电子中，确保敏感组件的最佳性能和寿命至关重要。在光子学和光学、数据中心以及汽车应用（例如 MEMS、油漆、电动汽车组件）等领域，有效的污染控制实践有助于维护质量标准、降低维护成本，并增强产品的整体可靠性和安全性。TSI 每天都在致力于帮助领先的工业制造商识别其环境中的污染源，这些环境中精度和可靠性对于实现高质量最终产品极为重要。

符合 ISO 14644 标准对于控制空气中颗粒物污染水平至关重要。

流速1 CFM (28.3 LPM) 精确度± 5% / 粒径范围0.3 to 25 μm / 内置泵

访问FMS， 无处不在！OPC UA客户机/服务器能够监控粒子数量和其它环境参数，这对于减少浪费、提高产量、提高质量和增加利润具有重要的商业意义